03.11.2005 • Bildverarbeitung / Optische Messtechnik

Wafer-Identifikation

Wafer mit ihrem hohen Wertschöpfungsfaktor erfordern eine sichere Verfolgung im gesamten Produktionsprozess. Der neue, besonders kompakte In-Sight 1721 Wafer Reader von Cognex erleichtert durch den integrierten Ethernetanschluss die Integration und den flexiblen Einsatz an jedem beliebigen Produktionsort. Für die Verfolgbarkeit von Halbleiter-Wafern im Produktionsprozess bietet er bei deutlich reduzierter Baugröße einschließlich der LED-Beleuchtung die doppelte Rechengeschwindigkeit gegenüber seinen Vorgängern. Die Kompatibilität hinsichtlich der Montage und Funktion blieb erhalten.
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