Laser-Scanning-Mikroskopie

Das 3D-Laser-Scanning-Mikroskop Lext OLS4100 von Olympus bietet schnellere Scanning-Modi und eine verbesserte Panoramadarstellung für höhere Effizienz der kontaktfreien, zerstörungsfreien Inspektion und Metrologie. Proben von unterschiedlicher Größe lassen sich mühelos analysieren. Die Navigation auf der Probe ist auch bei starker Vergrößerung unkompliziert möglich, da stets eine mit geringer Vergrößerung erfasste Weitfeld-Übersichtsdarstellung der Probe angezeigt wird.

Darüber hinaus wurde das Sehfeld durch Aktualisierung der Stitching-Funktionen erweitert. Aus zahlreichen Einzelaufnahmen wird nahtlos ein einzelnes Bild konstruiert, das anschließend in 2D oder 3D angezeigt und vermessen werden kann. Die Grenzen des Stitching-Bereichs werden automatisch erkannt. Alternativ kann der genaue Bereich auch manuell durch Umfahren der Probe in beliebiger Form festgelegt werden. Bildaufnahmen sind schneller und flexibler möglich. Dafür steht eine Reihe von Scanning- Modi zur Verfügung.