inVia – das flexibelste Raman-Mikroskop für Forschungsanwendungen

inVia Raman-Mikroskope sind höchst leistungsfähige Systeme mit integrierten professionellen Mikroskopen, sodass hochauflösende (spektral sowie lateral) konfokale Messungen möglich sind. Sie unterstützen mehrere Laser, wobei die Umschaltung der Anregungswellenlänge über die Software automatisch erfolgt.
Die Flexibilität von Renishaws inVia Raman-Mikroskopen nimmt eine besondere Stellung am Markt ein. Je nach Anforderung kann die Funktionalität und auch der Grad an Automatisierung gewählt werden. Wenn die Anforderungen sich ändern, kann das System Stufe-um-Stufe erweitert werden mit einer breiten Auswahl an Zubehör.

Alle inVia Raman Mikroskope profitieren von patentierten Funktionalitäten wie EasyConfocal™ and SynchroScan™, welche dem inVia einzigartige Fähigkeiten verleihen. Die EasyConfocal™ Methode unterbindet die Notwendigkeit für klassische Lochblenden-basierte konfokale Optiken. Sie ermöglicht damit höchste konfokale Messungen ohne gleichzeitig Abstriche bei der Bedienerfreundlichkeit oder bei der Leistungsfähigkeit machen zu müssen. Die SynchroScan™ Funktionalität ermöglicht Artefact-freie Messungen über den kompletten Raman- und Photolumineszenz-Messbereich.

Um die Anforderungen des Marktes nach immer schnelleren bildgebenden Imagingverfahren zu erfüllen, hat Renishaw StreamlinePlus™ in Ergänzung zu ihrem inVia Raman Mikroskop als schnellstes und flexibelstes Verfahren entwickelt.
Die Kombination aus Line Focus, ultra-schnellem und hochgenauem motorisiertem xyz-Mikroskoptisch, und dem synchronisierten Auslesen des CCD Kameradetektors erlaubt die sehr schnelle Aufnahme von Raman-Imaging Bildern mit variabler räumlicher Auflösung.

Damit sind Messzeiten von 6 ms pro Spektrum möglich; ein Raman-Imaging Bild einer kompletten Tablette, bestehend aus mehreren zehntausend Spektren, kann in weniger als 4 Minuten aufgenommen werden.

Anwender z.B. aus der Pharmazie, Forensik oder aus der Medizin erzielen damit einen höheren Probendurchsatz und somit eine Reduktion der Kosten.
Dank der von Renishaw entwickelten optimierten, direkten Kopplungstechnologie eignet sich das Renishaw inVia Raman Mikroskop ideal zur Kombination mit unterschiedlichen SPMs (Rastersonden-Mikroskope) von verschiedensten Herstellern und bietet damit spitzenverstärkte Raman-Spektroskopie (TERS), Nahfeld-Verfahren (SNOM, NSOM) sowie Raman-AFM. Kombinierte AFM/Raman Instrumente (auch bekannt als SPM-Raman) ermöglichen eine verbesserte Probenanalyse durch eine Untersuchung der chemischen und strukturellen Materialeigenschaften im Submikrometerbereich.

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