Das QUANTAX Mikroanalysesystem

Bruker AXS Microanalysis präsentiert das QUANTAX Mikroanalysesystem mit den einzigartigen XFlash Siliziumdriftdetektoren und der ESPRIT Analysensoftware. Die XFlash Detektorfamilie besteht derzeit aus drei Mitgliedern: Der 10 mm²-Detektor XFlash 4010 ist mit einer Energieauflösung von bis zu 123 eV bei Mn-Ka und 100,00 cps Eingangsimpulsrate bestens für die Analytik im Niedrigenergiebereich geeignet. Der 30 mm² XFlash 4030 ist mit seiner großen aktiven Fläche das gerät der Wahl wenn es um Anwendungen bei niedrigen Strahlströmen geht. Der Vier-Kanal-Detektor XFlash QUAD 4040 verfügt über vier 10 mm² Sensoren, die auf einem Detektorchip integriert sind. Das sorgt für überlegene Leistungen bei allen Impulsraten, der Detektor akzeptiert Eingangsimpulsraten von bis zu 3 000 000 cps und bietet dennoch eine Energieauflösung von 123 eV bei Mn-Ka und 100 000 cps.

Das QUANTAX sorgt für ultimative Produktivität in der Mikroanalytik. Der echt standardfreie P/U-ZAF Algorithmus liefert zuverlässige Ergebnisse selbst bei schwierigsten Proben, wie rauen Oberflächen und Partikeln. Die ausgezeichnete Performance im Niedrigenergiebereich, mit einer Energieauflösung von 43 eV bei C-Ka und 53 eV bei F-Ka, für unsere beste Detektoren, macht früher nicht detektierbare Element-Peaks sichtbar und setzt daher eine vollständige Atomdatenbibliothek voraus, um Fehlidentifikationen zu vermeiden. Die Atomdatenbibliothek der ESPRIT Analysensoftware enthält den kompletten Umfang an K-, L- und M-Linien aller Elemente mit korrekten Energien und relativen Intensitäten. Vormals zeitaufwendige Anwendungen, wie großformatige Maps und HyperMaps (Maps mit hinterlegten Spektren) können mit zehnfacher Geschwindigkeit im Vergleich zum klassischen Si(Li)-Detektor durchgeführt werden. Der XFlash QUAD bietet sogar einen bis zu fünfzigfachen Geschwindigkeitsvorteil bei gleichen Analysen.