Der Seitenblick ins Plasma

Auf der Pittcon 2006 präsentiert Spectro das neue Genesis SOP (Side-On-Plasma) mit radialer Plasma-Betrachtung. Das Optische Emissionsspektrometer mit induktiv gekoppelter Plasmaanregung (ICP OES) erfasst das Spektrum zwischen 175 und 777 nm, womit sich weit über 70 Elemente simultan bestimmen lassen. Typische Applikationen für das neue Gerät liegen in der Untersuchung industrieller Abwässer, der Analyse von Abriebmetallen und Additiven in Ölen sowie in der Untersuchung von Böden und Schlämmen in der Agrarwirtschaft. Vielfältige Einsatzgebiete bietet auch die chemische Industrie, etwa bei der Untersuchung von Lösungen mit höheren Salzgehalten, organischer Proben, bei denen eine axiale Plasma-Betrachtung keine zufrieden stellenden Resultate liefern würde. Erste Methodenpakete sind zur Markteinführung erhältlich. Das Gerät ist eine sehr gute Alternative für Industrielabors, die bislang mit FAA-Technologie (Flame Atomic Absorption) analysieren.