SAP Qualitätsmanagement: Vielfältige Statistik-Funktionen

Zur funktionalen Erweiterung der SAP-Anwendung „Qualitätsmanagement“ bietet VIEW/3 fertige Report-Vorlagen sowie erweiterte, grafische und statistische Auswertungen.

Der Einsatz von Crystal Reports als Entwurfswerkzeug ermöglicht dem Anwender die einfache Gestaltung benutzerdefinierter Layouts und Datenbankabfragen mit beliebiger Selektion von Daten aus SAP Prüflosen als auch aus zusätzlichen Datenbanktabellen.

Die Prüflose werden über einen RFC-Baustein in eine Datenbank geladen und stehen dort für weitere Auswertungen zur Verfügung. So kann beispielsweise eine Auswertedatenbank lokal auf einem Notebook erstellt und zu Demonstrationszwecken mit zum Kunden oder Lieferanten genommen werden.

VIEW/3 steht auch als Option VIEW für das Subsystem QM/3 zur Verfügung, d.h. die auszuwertenden Prüflose werden nicht direkt aus dem SAP-System sondern aus dem QM/3-Subsystem übernommen.

VIEW/3 ist in verschiedenen Sprachversionen erhältlich, wobei die Fremdsprache dynamisch während der Laufzeit ausgewählt werden kann.

Vorteile

• Erweiterung und Ergänzung des SAP-Standards
• Einfache kundenspezifische Anpassung durch Crystal Reports als Entwurfswerkzeug
• Einsparung von Entwicklungskosten im SAP-System
• Einfache Einbindung von zusätzlichen Datenbanktabellen
• Umfangreiche Filter- & Selektionsmöglichkeiten mit Speicherung der Varianten

Erweiterte Auswertungen

• Prüflos-/ prüfpunkt-/ probenübergreifende Darstellungen
• Xquer/s, Xquer/R, Xquerquer, X/Xquerquer Karten
• Paretoauswertungen Merkmalsfehler
• Qualitative Auswertung
• Merkmalsvergleich relativ / absolut
• Häufigkeitsverteilung
• Wahrscheinlichkeitsgerade
• Urwertkarte
• Mehrere Merkmale auf einen Blick
• „Chart-Scroll“ Feature
• Min/Max- oder toleranzbezogene Anzeige
• Kennzahlen (cp, cpk, cm, cmk)

QM-Muster-Reportvorlagen

• Auftragsprotokolle detailliert mit Grafik
• Prüfzertifikat, Werkszeugnisse
• Prüfanweisung
• Erstmusterprüfberichte (VDA, QS9000)
• SPC Karten
• Fehlersammelkarte (Merkmalsfehler)
• ppm-Auswertungen über Prüflose oder Merkmale
• Formnester bezogene Auswertungen
• Einbindung individueller Grafiktypen in Reports
• Benutzerdefinierte Layouts & Datenbankabfragen