iC-MF L/N/P: 8-fach eigensichere FET Treiber
iC-MFL, iC-MFN und iC-MFP sind monolithisch integrierte, achtkanalige Pegelanpassungsbausteine zur Ansteuerung von Logic FETs, N- und P-Kanal Leistungs-FETs. Die internen Schaltungsblöcke sind dabei so aufgebaut, dass die Ausgangsstufen der iC-MF-Bausteine bei Einfachfehlern durch offene Pins oder durch Kurzschluss zweier Ausgänge in den sicheren, definierten OFF-Zustand gehen. Das sichere Ausschalten der angesteuerten FETs ist somit bei einem Einfachfehler gewährleistet.
Typische Anwendungen sind der Betrieb von FETs aus 1.8 V, 3.3 V oder 5 V TTL- und CMOS-kompatiblen Systemen wie FPGAs, modernen Mikrocontrollern und Mikroprozessoren mit "Fail Safe"-Anforderungen an die Fehlersicherheit der Baugruppe.
Die Eingänge der acht Kanäle bestehen aus einem Schmitt-Trigger mit Pull-Down-Stromquelle und sind zu TTL- und CMOS-Pegeln (1.8 V bis 3.3 V bis 5 V) kompatibel und bis 40 V spannungsfest. Zur Erhöhung der Eingangsstörsicherheit und Verringerung der Verlustleistung sind die Pull-Down-Widerstände zweistufig ausgeführt. Die acht Kanäle haben am Ausgang eine strombegrenzte Push-Pull-Endstufe und einen Pull-Up/Down-Widerstand.
Falls die Versorgungsspannung an VB unter eine definierte Schwelle fällt, schaltet die Spannungsüberwachung die Ausgänge aktiv in den OFF-Zustand. Fällt eine Versorgungsspannung oder die Masseverbindung aus, erreichen die Ausgänge trotzdem den sicheren OFF-Zustand.
Auch beim Kurzschluss zweier Ausgänge, mit einer aktiven FET-Ansteuerung mit High Signal, überwiegt die Stromfähigkeit des OFF-Zustands-Treibers und hält somit die angeschlossenen FETs im sicheren ausgeschalteten Zustand. Der aktuelle Status des Bausteins wird über den Open-Drain Pin NOK signalisiert und kann zur Systemdiagnose einzelner Kanäle verwendet werden.
Die Bausteine sind gegen Zerstörung durch ESD geschützt. Die Temperaturüberwachung schützt die Bausteine vor Zerstörung durch zu hohe Verlustleistung. Die Bausteine arbeiten von –40 °C bis 125 °C und kommen im QFN24 Gehäuse ROHS konform.
Typische Anwendungen sind der Betrieb von FETs aus 1.8 V, 3.3 V oder 5 V TTL- und CMOS-kompatiblen Systemen wie FPGAs, modernen Mikrocontrollern und Mikroprozessoren mit "Fail Safe"-Anforderungen an die Fehlersicherheit der Baugruppe.
Die Eingänge der acht Kanäle bestehen aus einem Schmitt-Trigger mit Pull-Down-Stromquelle und sind zu TTL- und CMOS-Pegeln (1.8 V bis 3.3 V bis 5 V) kompatibel und bis 40 V spannungsfest. Zur Erhöhung der Eingangsstörsicherheit und Verringerung der Verlustleistung sind die Pull-Down-Widerstände zweistufig ausgeführt. Die acht Kanäle haben am Ausgang eine strombegrenzte Push-Pull-Endstufe und einen Pull-Up/Down-Widerstand.
Falls die Versorgungsspannung an VB unter eine definierte Schwelle fällt, schaltet die Spannungsüberwachung die Ausgänge aktiv in den OFF-Zustand. Fällt eine Versorgungsspannung oder die Masseverbindung aus, erreichen die Ausgänge trotzdem den sicheren OFF-Zustand.
Auch beim Kurzschluss zweier Ausgänge, mit einer aktiven FET-Ansteuerung mit High Signal, überwiegt die Stromfähigkeit des OFF-Zustands-Treibers und hält somit die angeschlossenen FETs im sicheren ausgeschalteten Zustand. Der aktuelle Status des Bausteins wird über den Open-Drain Pin NOK signalisiert und kann zur Systemdiagnose einzelner Kanäle verwendet werden.
Die Bausteine sind gegen Zerstörung durch ESD geschützt. Die Temperaturüberwachung schützt die Bausteine vor Zerstörung durch zu hohe Verlustleistung. Die Bausteine arbeiten von –40 °C bis 125 °C und kommen im QFN24 Gehäuse ROHS konform.
Diese Produktinformation
ist aus unserem Archiv!
Aktuelle Produkte finden Sie über die Suche ...
ist aus unserem Archiv!
Aktuelle Produkte finden Sie über die Suche ...
