Defekte leichter und zuverlässiger erkennen

Das neue Inspektionsmikroskop MX61 von Olympus macht die Halbleiterprüfung effizienter durch verbesserte Fehlerdetektion und zuverlässigere Inspektionsergebnisse. Erreicht wird dies durch einen automatisch für die jeweils gewählte Vergrößerung optimierten Kontrast, den leichten Zugriff auch auf komplexere Kontrastmethoden und die intuitive Bedienung. Dadurch werden Anwendungsfehler minimiert und Prüfergebnisse weniger abhängig vom jeweiligen Bediener. Das gesamte Entwicklungskonzept ist darauf ausgerichtet, von Anfang an die Effizienz bei der Inspektion soweit wie möglich zu steigern.