MVTec hat hier die erste Anwendung für optische Qualitätskontrolle mit dem Namen „Anomaly Detection for Visual Inspection“ veröffentlicht. Die Algorithmen stammen aus dem MVTec-Produkt Merlic. Die App hilft Anwendern, komplexe Inspektionsaufgaben schnell und einfach mithilfe von KI-Technologien zu lösen. Logische und strukturelle Defekte an Objekten werden gefunden, ohne dass Programmierung, tiefgreifende Bildverarbeitungskenntnisse oder fehleranfälliges, langwieriges Daten-Labeling erforderlich sind.