Schnelle und zuverlässige Datenerfassung

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Flexibel im Einsatz, schnell im Ergebnis, effizient in der Handhabung: Das neue konfokale 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT OLS5000 von Olympus scannt viermal schneller und steigert damit die Effizienz in der industriellen Prüfung. Mit der neuen 4K-Technologie, einem großen Arbeitsabstand und einer intuitiven Software ist es möglich, die Form einer jeden Probe aus jedem Winkel zu erfassen. Das LEXT OLS5000 eröffnet seinen Anwendern eine neue Dimension in der Oberflächenmetrologie. Mit speziellen Objektiven, einem verbesserten Scan-Algorithmus und einem erweiterten Probenraum ist das neue LEXT in der Lage, Proben mit einer Höhe von 0 bis 210 mm flexibel zu erfassen. 

Das LEXT OLS5000 nutzt einen PEAK-Algorithmus zur 3D-Datenmodellierung, der in Kombination mit der intelligenten Skip-Scan-Funktion die Messdatenerfassungszeiten um bis zu 75 % reduziert. Damit empfiehlt es sich insbesondere für Anwendungen mit hohem Durchsatz, wie bei der Qualitätskontrolle in der Automobilindustrie, sowie bei der Herstellung elektronischer Komponenten und Halbleiter.