Umfassende Materialanalyse

Olympus stellt ein Tischgerät vor, das die Röntgendiffraktometrie (X-ray diffraction, XRD) und die Röntgenfluoreszenzanalyse (X-ray-fluorescence, XRF/RFA) in einem Gerät vereint. Das BTX-Profiler baut auf die revolutionäre Röntgendiffraktometrie-Technologie auf, die vom Rover „Curiosity“ (einem Teil des NASA-Programms „Mars Science Laboratory“) genutzt wird sowie auf die erdgebundene Technologie der Röntgendiffraktometrie- und Röntgenfluoreszenz- Analyse der Geräte des Herstellers.

Das BTX Profiler kombiniert diese Methoden und liefert sowohl die strukturelle als auch die elementare Zusammensetzung. Aufgrund dieser Kombination ist das Gerät wirtschaftlich, spart Raum und Zeit ein und integriert darüber hinaus fließend Prüfdaten und Ergebnisse. Es reduziert Ineffizienzen, die bei konventionellen Diffraktometriesystemen auftreten.