RF-Vektornetzwerkanalysator für PXI bietet präzise Vektornetzwerkanalyse für automatisierte RF-Prüfanwendungen bis 6 GHz

National Instruments gab kürzlich die Markteinführung des 6-GHz-Nektornetzwerkanalysators NI PXIe-5630 mit zwei Anschlüssen bekannt. Dieser Analysator für automatisierte Prüfanwendungen ist der branchenweit erste, der im kompakten PXI-Formfaktor erhältlich ist. Der Vektornetzwerkanalysator ermöglicht die Ermittlung von Übertragungs- und Reflexionsparametern (T/R, Transmission/Reflexion), bietet präzise automatische Kalibrierung und eine flexible softwaredefinierte Architektur, wodurch er sich besonders für die automatisierte Designvalidierung und die Produktionsprüfung eignet. Die modulare PXI-Architektur und das geringe Abmaß (3HE, 2 Steckplätze) ermöglichen eine direkte Integration von Vektornetzwerkanalysefunktionen in Prüfsysteme, ohne dass dafür zusätzliche Kosten und erhöhter Platzbedarf wie bei traditionellen Vektornetzwerkanalysatoren entstehen.

„Der 6-GHz-Vektornetzwerkanalysator demonstriert unsere kontinuierlichen Investitionen zur Bereitstellung von RF-Lösungen, die Anwender dabei unterstützen, Prüfgenauigkeit und Prüfdurchsatz zu erhöhen und zugleich Installationskosten, Größe und Komplexität zu verringern“, so Phil Hester, Senior Vice President des Bereichs Forschung und Entwicklung bei National Instruments. „Wir sind stolz darauf, diesen Analysator unserem bereits etablierten und wachsenden RF-Portfolio an modularen PXI-Messgeräten hinzufügen zu können.“

Der NI PXIe-5630 eignet sich aufgrund einer Vielzahl von ausgefeilten Eigenschaften insbesondere für automatisierte Prüfanwendungen. Dazu zählen u. a. eine automatische Präzisionskalibrierung, eine vollständige Vektoranalyse an beiden Anschlüssen, Erweiterungen der Referenzebene und eine flexible LabVIEW-Programmierschnittstelle speziell für parallele Tests. Der Vektornetzwerkanalysator wartet mit leistungsstarken Spezifikationen auf, u. a. mit einem Frequenzbereich von 10 MHz bis 6 GHz, einemgroßen Dynamikbereich >110 dB sowie Abtastgeschwindigkeiten kleiner 400 µs pro Punkt über 3201 Punkte. Außerdem können Anwender aufgrund der PXI-Konfiguration bis zu acht NI-PXIe-5630-Module in einem einzelnen PXI-Chassis kombinieren und RF-Tests parallel durchführen.

Das Modul NI PXIe-5630 kann dank eines Soft-Frontpanels (VNA Bedienoberfläche) mit vollem Funktionsumfang interaktiv oder programmatisch mithilfe von Programmierschnittstellen für die Software NI LabVIEW und der ANSI-C-basierten Entwicklungsumgebung NI LabWindows™/CVI gesteuert werden. Beide Schnittstellen sind für den Einsatz auf Multicore-Systemen optimiert, um parallele Tests an mehreren RF-Komponenten gleichzeitig zu ermöglichen. So ergibt sich im Vergleich zu sequenziellen, geschalteten Prüfverfahren ein erheblicher Vorteil beim Prüfdurchsatz.

Zudem erweitert das Modul NI PXIe-5630 die schon umfangreiche Auswahl an modularen PXI-Messgeräten für automatisierte Prüfanwendungen. Ein zusätzlicher Vorteil des Industriestandards PXI ist die Möglichkeit, den Vektornetzwerkanalysator mit mehr als 1500 PXI-Messgeräten von NI und von über 70 anderen Anbietern zu integrieren, um die Anforderungen fast jeder Prüfanwendung zu erfüllen.

Der Vektornetzwerkanalysator wird ab Oktober 2010 verfügbar sein. Näherer Informationen über den NI PXIe-5630 finden Sie unter www.ni.com/vna.

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