RFID-Sicherheitsschalter für die ...
RFID-Sicherheitsschalter für die sichere Objekt-...
Für die Kantenprüfung von stark lichtabsorbierenden, tiefblauen Solarwafern verfügt Sick über ein neues Produkt: den Inspector I20-UV Flex. Pilotinstallationen belegen, dass beschädigte Wafer damit zuverlässig erkannt und rechtzeitig ausgeschleust werden. Die Anforderung an die Vision-Lösung ist hoch, da sich die Eigenschaften der Solarzellenoberfläche in nahezu jedem Prozessschritt ändern: von silbern glänzend bis zu fast schwarzer Farbe mit monokristalliner oder polykristalliner Struktur. Der Inspector mit seiner integrierten Beleuchtung, Bildauswertung und Ethernet- Schnittstelle stellt eine zuverlässige Sensorlösung für die Kantenprüfung dar, die sich zudem leicht in das industrielle Umfeld integrieren lässt.
RFID-Sicherheitsschalter für die sichere Objekt-...