Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop LEXT

Um den Wünschen der Kunden nach einer schnelleren Funktionsweise, einfacheren Handhabung und größeren Genauigkeit nachzukommen, hat Olympus das konfokale Laser-Scanning-Mikroskop LEXT entwickelt. LEXT steht für extrem präzise Messungen und Bildaufzeichnungen mit höchstem Grad an Zuverlässigkeit. Das neue LEXT OLS3100 minimiert die manuellen Bedienungsschritte und erleichtert dabei dessen Handhabung. Selbst Laien ist es möglich das System professionell zu nutzen und schnell reproduzierbare Ergebnisse zu erhalten. Neben einer verbesserten Funktionalität erlaubt das neue LEXT zudem ein effizienteres Messen und bietet diverse Optionen für die genaue Messung feiner Oberflächenprofile. Sowohl hoch präzise 3-D-Messungen als auch hochaufgelöste Ober-flächendarstellungen sind in Echtzeit möglich. LEXT erreicht eine wesentlich höhere Auflösung als konventionelle optische Sys­teme, bietet dennoch die ganze Vielfalt mikroskopischer Beobachtungsmethoden, so dass Proben wesentlich schneller und genauer untersucht werden können als
mit bekannten 3-D-Messsystemen. Mit diesen überragenden Möglichkeiten zur Darstellung und Vermessung gibt LEXT der Metrologie eine neue Dimension – für effizientere Fertigungsprozesse, für Produkte mit höherer Zuverlässigkeit, für das bessere Verstehen von Oberflächen und die Entdeckung neuer Erkenntnisse, die Ingenieuren helfen, neue Materialien mit besseren Eigenschaften zu entwickeln.