Die optischen Messgeräte TopMap Micro.View und Micro.View+ charakterisieren die Oberflächenbeschaffenheit präzisionsgefertiger Teile berührungsfrei und mit sehr hoher lateraler sowie vertikaler Auflösung. Diese neuen optischen Profilometer ermitteln hochgenau Kenngrößen wie Textur und Rauheit, aber auch Ebenheit an feinen und sensiblen Strukturen. Die neu entwickelte „Continuous Scanning Technology“ erweitert den vertikalen Messbereich auf bis zu 100 mm (verglichen mit 250 µm Messbereich beim Vorgängermodell).
Die neue Geräteserie verfügt über zahlreiche Innovationen wie den erweiterten Messbereich und Automatisierungsoptionen, um praktische Lösungen für die individuellen Anwendungsansprüche und Herausforderungen in der Produktion zu liefern. Darüber hinaus verfügen beide Geräte über ein robustes Messverfahren „ECT Environmental Compensation Technology“, welches unempfindlich gegen Störeinflüsse in Produktionsumgebungen ist, was in signifikant verlässlicheren Ergebnisse und damit einer besseren Prozesskontrolle in der Fertigungsumgebung sorgt. Diese verlässlichen Messergebnisse als Feedback ermöglichen ein unmittelbares und fundiertes Reagieren im Produktionsprozess und hilft die Einhaltung aller Qualitätsansprüche kosteneffizient zu sichern. Weiterhin kann die Positionierung der Prüflinge auf Wunsch komplett automatisch erfolgen. Zusammen mit intelligenter Fokusdetektion und Fokusnachverfolgung wird die Oberflächenkontrolle damit zur effizienten Ein-Klick-Lösung.