RISE-Mikroskopie

Korrelatives Raman-SEM Imaging (kurz RISE-Mikroskopie) ist jetzt mit einem weiteren Elektronenmikroskop möglich, dem Zeiss Sigma 300, einem Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-REM).

Dieses Produkt besteht aus dem Zeiss Sigma 300 mit unveränderter Vakuumkammer und einem voll ausgerüsteten konfokalem Raman-Mikroskop mit Spektrometer. Witec und Zeiss haben dieses System gemeinsam entwickelt. Die nahtlose Kombination zweier Techniken in einem Gerät bietet den Vorteil, dass die Messungen schneller und einfacher sind als bei der Verwendung zweier Geräte – denn die für die Raman-Messungen nötigen Komponenten (Objektive, Objekttisch) werden in die Vakuumkammer des REM integriert.

Das Raman-Mikroskop wird über einen Standard-Zugang des REMs angeschlossen. Die Probe wird während der Messungen von einer zur anderen Messposition verschoben und verbleibt für das gesamte Experiment in der Vakuumkammer.