17.02.2014 • Bildverarbeitung / Optische Messtechnik • Mikroskopie / Bildgebung

Konfokale Mikroskopie & Weißlicht-Interferometrie in einem

Das neue optische Oberflächenmessgerät MarSurf CWM 100 von Mahr vereint die Konfokale Mikroskopie mit der Weißlicht-Interferometrie. Die Kombination dieser beiden wichtigen physikalischen Messmethoden ermöglicht die Messung nahezu aller technischen und optischen Oberflächen.

Dank unterschiedlicher und für die entsprechende Messmethode geeigneter Objektive in einem Objektiv-Revolver wechselt der Nutzer schnell und einfach zwischen verschiedenen Vergrößerungen und Bildfeldgrößen. Ein motorisch angetriebener CNC-gesteuerter X/YTisch verfährt und positioniert den Prüfling automatisch. Dadurch sind auch Analysen größerer Flächen durch Bildzusammenfügungen (Stitching) einfach, schnell und präzise möglich.

Die Auswertung der Profile erfolgt über eine leistungsstarke integrierte Software. Weiterhin ist die Auswertung mit der neuen Topographiesoftware MarSurf MfM möglich. In Ergänzung und Weiterführung des Weißlichtinterferometers MarSurf WS 1 geht Mahr mit dem MarSurf CWM 100 einen weiteren großen Schritt bei der berührungslosen Oberflächenmesstechnik.

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