Testsysteme mit programmierbaren Netzteilen

National Instruments gibt die Markteinführung neuer, universeller, programmierbarer Netzteile bekannt, die eine sehr hohe Leistungsdichte im PXI-Formfaktor bieten und die Grundlage von automatisierten Testsystemen bilden. Diese hohe Leistungsdichte der Module NI PXIe-4112 und NI PXIe-4113 hilft Anwendern, den Platzbedarf im Rack zu verringern und gleichzeitig den Entwicklungsprozess zu vereinfachen, so dass unterschiedliche Formfaktoren nicht mehr kombiniert werden müssen.

Die neuen programmierbaren Netzteile eignen sich optimal für eine Vielzahl von Anwendungen – von der Luft- und Raumfahrt sowie dem Verteidigungswesen bis hin zum Test im Automobilbereich. Die Module verfügen über zwei Stromversorgungskanäle mit einer Leistung von 60 W in einem einzelnen PXI-Express-Steckplatz. Zur einfachen Synchronisation von Messungen können Anwender die Netzteile mit mehr als 1500 modularen PXI-Messgeräten kombinieren – von Digitalmultimetern bis hin zu RF-Analysatoren und -Generatoren – und die Messgeräte über die Backplane des PXI-Express-Chassis triggern.