Nanomaterial-Analyse

Panalytical hat eine Ergänzung für seine Empyrean Vielzweck-Diffraktometer-Plattform vorgestellt: Scatter X 78. Dabei handelt es sich um eine kompakte und ergonomische SAXS/WAXS-Einheit, die auf einer patentierten Technologie basiert. Sie besteht aus einer Kammer mit speziellen Optikkomponenten für die Strahlkonditionierung sowie einer Anzahl von Probenhaltern.

Die ganze Kammer wird evakuiert und erlaubt damit schnelle Kleinwinkelstreuexperimente (SAXS) mit hoher Empfindlichkeit – auch bei schwach streuenden und stark verdünnten Proben. Diese Messungen können bis zu Winkeln von 78 Grad durchgeführt werden. Die Weitwinkelstreuung (WAXS) liefert hierbei wertvolle Informationen über die atomare Anordnung im Material.

Zusammen mit den Pixcel-Flächendetektoren des Herstellers erlaubt das System auch die Messung von 2D SAXS, was für die Analyse anisotroper Proben wichtig ist. SAXS ist eine vielseitige Technik, die für die Quantifizierung von nanoskaligen Dimensionen und für die Analyse von Nanostrukturen verwendet wird. Sie lässt sich fast auf alle Typen von Nanomaterialien anwenden, wie flüssige Nanopartikel-Dispersionen, Nanopulver, Nanokomposite oder mesoporöse Materialien.