Innenraum-Inspektionssystem

Isis sentronics, innovativer Anbieter von optischen, kontaktfrei arbeitenden Sensoren für die industrielle Inspektion, präsentiert i-Dex, das weltweit erste halbautomatisierte Innenraum-Inspektionssystem, dessen Kernelement der Sensor RayDex ist.

Für Aufgaben an Außenflächen von nahezu rotations-symmetrischen Objekten kann das System entsprechend um einen weiteren Sensor ergänzt werden. i-Dex hat einen Arbeitsbereich von 200 x 200 x 200 mm und kann sowohl im Maschinenbau als auch in der Medizintechnik flexibel eingesetzt werden für:

• kompletter 3D-Innenraumscan von diversen Bauteilen,
• Vermessung von Außenkonturen und Wandstärken (bei rotierendem Objekt),
• Erfassen von Oberflächenwerten (z.B. Rauheiten).

Desweiteren zeigt Isis eine große Spannbreite an optischen Messnadeln, welche direkt an den RayDex angeflanscht werden können. Dazu gehört die derzeit weltweit dünnste optische Messnadel mit 0.7 mm Durchmesser. Objekte bis zu 165 mm Durchmesser Obergrenze können mit wenigen Messnadeln stufenlos vermessen werden. Die RayDex c (compact) und RayDex h (heavy duty) Sensor Reihe besitzt unterschiedliche Freiheitsgrade in der Bewegung der Messnadeln. RayDex ca bzw. ha erlaubt das axiale Bewegen der Messnadel und deren Rotation. RayDex cr bzw. hr arbeitet nur mit der Rotation, d.h. ohne eigene axiale Bewegung. Zusätzlich sorgt eine interne Fokussierungseinheit für Arbeitsbereiche oder Objekt-Durchmesser (= doppelter Arbeitsbereich) von einigen Millimetern. Der RayDex Sensor besteht aus einem Sensorkopf mit Messnadel und einer entfernt platzierbaren Control Unit. In RayDex ca wird die Messnadel axial bis 50 mm über einen luftgelagerten Aktor bewegt, während mit RayDex ha sogar 150 mm möglich sind. Die Messnadel rotiert ebenfalls luftgelagert mit einer Frequenz von bis zu 3 Hz, kann aber auch auf Positionsbetrieb umgeschaltet werden. Mit Hilfe des von Isis sentronics patentierten optischen Dekodierverfahrens in der Control Unit werden sich verändernde Abstände zur Oberfläche bis zu maximal 4.000-mal in der Sekunde abgetastet. Über den Messbereich von mehreren Millimetern hinweg sind Wiederholgenauigkeiten von bis zu 100 nm zu erreichen.