Nach erfolgreicher Markteinführung des Basis-Systems konnte nun auch die Ankopplung des Direkt-Einlass-Systems für Agilent 5973/5975 MSDs an CTC PAL-Autosampler realisiert werden, somit können jetzt MS-Messungen nicht nur für flüssige, sondern auch für feste Proben voll automatisiert durchgeführt werden. Die SIM Scientific Instruments Manufacturer GmbH hat das Direkt-Einlass-System (MSD-DIP) speziell für die massenselektiven Detektoren von Agilent Technologies entwickelt, die somit noch vielfältiger genutzt werden können. Hiermit kann der MSD zusätzlich zum normalen GC/MS-Betrieb ohne Umbauarbeiten! direkt zur Aufnahme von Massenspektren im EI- bzw. CI-Modus eingesetzt werden (DIP/MS). Da keine Hardware-Änderungen notwendig sind, können DIP/MS- und GC/MS-Messungen auch alternierend durchgeführt werden; zur automatisierten Messung von flüssigen und festen Proben wird der Dual-PAL mit zwei Dosiereinheiten eingesetzt. Diese Kombination mit der speziell entwickelten Steuerungs-Software stellte die SIM GmbH erstmals auf der Analytica 2008 vor. Zusammen mit der Autosampler-Option sind die kurzen Messzeiten im DIP/MS-Betrieb optimal geeignet für Screening-Verfahren und zur Online-Analytik.