PIFOC Nanofokus-Systeme jetzt auch für Probenhalter

Stellwege bis zu 0,5 mm und Auflösungen von wenigen Nanometern sind wesentliche Merkmale des neuen P-737 PIFOC-Probenpositionieres von Physik Instrumente (PI). Der piezobasierte Antrieb spricht binnen weniger Millisekunden an und ist daher ideal geeignet, wenn es auf Durchsatz und Genauigkeit ankommt, z.B. bei Screeningaufgaben oder in der konfokalen Mikroskopie.

Für die Fokussierung muss entweder die abbildende Optik oder die Probe bewegt werden. Für die Bewegung der Probe spricht allerdings, dass das Bild in der Phasenkontrast-Mikroskopie nicht geschwächt wird. Ferner können Piezo-Z-Antriebe für die Probe aufgrund ihrer geringen Größe auch in den motorisierten XY-Probenscanner integriert werden, der häufig bereits als eine Systemkomponente des Mikroskops vorhanden ist.

Der Adaptionsaufwand wird dadurch minimiert, Objektive können flexibel verwendet werden. P-737 PIFOC Z-Antriebe für Proben werden z.B. ohne Adapter in Märzhäuser XY-Scanner integriert. Standard-Probenhalter für Objektträger bis hin zu Mikrotiterplatten werden dabei direkt im Piezo Z-Versteller verwendet. Die noch immer niedrige Gesamthöhe des integrierten XY-Z Systems erlaubt den problemlosen Einsatz unter gängigen Mikroskopen.