Linienscanner mit integriertem Controller

Beim Triangulations-Prinzip wird die Abstandsinformation über die Reflexion des Laserstrahls gewonnen. Dabei verursachen Oberflächenrauhigkeiten im Submikrometerbereich Interferenzen im Laserpunkt, wodurch Messergebnisse leicht verfälscht werden. Dieser physikalisch bedingte Effekt tritt besonders bei glänzenden Objekten zu Tage und lässt sich durch am Markt erhältliche Produkte kaum umgehen.

Micro-Epsilon, als Spezialist in Sachen Messtechnik, präsentiert den neuen optoNCDT 2200 LL, der Dank eines ovalen Lichtflecks auch auf metallisch glänzenden Objekten zuverlässig misst.

Der punktförmige Laserstrahl wird durch eine spezielle Zylinderoptik geweitet und auf das Messobjekt projiziert. Der Lichtfleck wird durch eine Empfangszeile aufgenommen und ausgewertet. Da über den Lichtfleck mit einem speziellen Algorithmus gemittelt wird, werden Interferenzerscheinungen gänzlich weggefiltert.
Weiteres Einsatzgebiet des optoNCDT 2200 LL sind strukturierte Oberflächen, bei denen der Abstand und nicht die Struktur gemessen werden soll. Die Abstandsinformation wird durch die Struktur der Oberfläche nicht beeinflusst, sondern liefert einen konstant zuverlässigen Wert über die Distanz zum Messobjekt.

Angeboten werden sieben verschiedene Modelle mit Messbereichen zwischen 2 und 200 mm. Der optoNCDT 2200LL basiert auf das erfolgreiche Modell optoNCDT 2200 und besitzt deshalb alle weiteren Vorzüge der Serie, wie schnelle Messdatenauswertung oder automatische Belichtungsregelung in Echtzeit.