AT-Line-Analytik für die Metallindustrie

Spectro hat für das Spectro Phoenix II eine neue Applikation für At-Line-Analysen in der Metallindustrie entwickelt. Mit dem robusten RFA-Gerät lassen sich Beschichtungen aus Silan, Phosphor, Zirkon, Titan, Vanadium und Chrom messen. Die Nachweisgrenze liegt für Phosphatierungen etwa bei gerade einmal 13 g/m². Der Bericht beschreibt die Messanordnung und die Ergebnisse mehrerer Testreihen. Das Dokument kann ab sofort unter www.spectro.com angefordert werden. Im neuen Applikationsbericht sind sechs Messreihen dokumentiert: Chrom-, Titan- und Zirkonbeschichtungen auf Aluminium, Chrom- und Phosphorbeschichtungen auf Stahl sowie eine Silanbeschichtung auf chromatiertem Stahl. Das Gerät lieferte in allen Messreihen äußerst zuverlässige Ergebnisse. Für die Messung dünner Zirkonbeschichtungen auf Aluminium oder dünner Chromatierungen auf Stahlblech wird als Alternative das High-End-RFA-Gerät Xepos angeboten. Dieses arbeitet mit einer höheren spektralen Auflösung und kann so auch nah beieinanderliegende Spektrallinien zuverlässig unterscheiden. Zusätzliche Vorteile bietet das Gerät in Labors mit hohem Probenaufkommen: Der Probenteller kann mehrere Proben gleichzeitig aufnehmen, die automatisiert nacheinander verarbeitet werden.