Mit dem Midex M präsentiert Spectro ein Benchtop-RFA-Gerät für Grenzwertnachweise gemäß der EU-Richtlinie RoHS. Als Universalgerät ermittelt es die Anteile von Cadmium, Quecksilber, Blei, Chrom sowie den Brom-Anteil in den Flammschutzmittel PBB und PBDE. Eine Mapping-Funktion für heterogene Strukturen und größere Oberflächen ermöglicht den Labors dabei die zerstörungsfreie Untersuchung von Platinen und Leiterplatten. Mit Hilfe des motorgesteuerten Probentisches, der auf der x-, y- und z-Achse beweglich ist, lassen sich Probenoberflächen bis zu einer Größe von mehr als 20 x 20 Zentimeter im Screening komplett untersuchen. Platinen und Leiterplatten sowie viele weitere Elektronikkomponenten lassen sich ohne Probenaufbereitung in das Analysegerät einbringen. Der Anwender erhält bereits nach relativ kurzer Messzeit eine kartografische Übersicht der Elemente. Eine Quantifizierung für einen Messpunkt ist bereits nach 23Minuten abgeschlossen. Eine eingebaute Videokamera mit 20facher Vergrößerung erlaubt bei dieser Anwendung die exakte Bestimmung der Messposition. Die Probe wird durch die Messung weder in ihrer physikalischen noch chemischen Zusammensetzung verändert.
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